Optische Mustererkennung in der Technik - Das aktuelle Schlagwort
| dc.contributor.author | Rembold, Ulrich | |
| dc.date.accessioned | 2018-01-26T10:51:47Z | |
| dc.date.available | 2018-01-26T10:51:47Z | |
| dc.date.issued | 1980 | |
| dc.identifier.uri | http://dl.gi.de/handle/20.500.12116/15322 | |
| dc.language.iso | de | |
| dc.publisher | Springer-Verlag | |
| dc.relation.ispartof | Informatik Spektrum: Vol. 3, No. 1 | |
| dc.title | Optische Mustererkennung in der Technik - Das aktuelle Schlagwort | de |
| dc.type | Text/Journal Article | |
| dc.pubPlace | Berlin Heidelberg | |
| mci.reference.pages | 49-50 | |
| mci.conference.sessiontitle | Aktuelles Schlagwort |
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