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dc.contributor.authorWichert, Karl-Heinz
dc.contributor.authorSpäth, Melanie
dc.contributor.editorLiggesmeyer, Peter
dc.contributor.editorEngels, Gregor
dc.contributor.editorMünch, Jürgen
dc.contributor.editorDörr, Jörg
dc.contributor.editorRiegel, Norman
dc.date.accessioned2019-06-03T12:41:24Z
dc.date.available2019-06-03T12:41:24Z
dc.date.issued2009
dc.identifier.isbn978-3-88579-237-6
dc.identifier.issn1617-5468
dc.identifier.urihttp://dl.gi.de/handle/20.500.12116/23352
dc.description.abstractEine häufige Ursache für ineffiziente Tests und mangelnde Testendequalität ist die ungenügende Eingangsqualität der Testobjekte. Es fehlen praktisch anwendbare Verfahren, mit denen die Qualität der Testobjekte frühzeitig im Test bewertet werden kann. Dieses Dokument beschreibt ein Stichprobenverfahren, mit dem die Gesamt-Fehleranzahl eines Softwaresystems nach Durchführung weniger Tetfälle abgeschätzt werden kann. Das Verfahren kombiniert ein einfaches mathematisches Modell für Fehlerabdeckung mit der Methodik des Pairwise-Testens. Mit dieser Information kann frühzeitig entschieden werden, ob ein weiterer Test sinnvoll ist oder konstruktive Maßnahmen zu diesem Zeitpunkt besser geeignet sind. Dadurch kann ineffizientes Testen vermieden, der Testaufwand genauer abgeschätzt und die Qualitätsverantwortung weg vom Testen und hin zum Entwicklungsprozess delegiert werden.de
dc.language.isode
dc.publisherGesellschaft für Informatik e.V.
dc.relation.ispartofSoftware Engineering 2009
dc.relation.ispartofseriesLecture Notes in Informatics (LNI) - Proceedings, Volume P-143
dc.titleEin Stichprobenverfahren zur Abschätzung der Fehlerzahlde
dc.typeText/Conference Paper
dc.pubPlaceBonn
mci.reference.pages189-194
mci.conference.sessiontitleRegular Research Papers
mci.conference.locationKaiserslautern
mci.conference.date02.-06. März 2009


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