Testautomatisierung gute qualität fällt nicht vom himmel

dc.contributor.author	Azimi, Maximilian
dc.contributor.author	Felske, Jens-Rainer
dc.contributor.author	Lauber, Sebastian
dc.contributor.author	Mattfeld, Jan-Henrich
dc.contributor.author	Schneider, Pascal
dc.contributor.author	Stapelfeldt, Krischan
dc.contributor.author	Suhl, Timm
dc.contributor.author	Techau, Nils
dc.contributor.author	Vosseberg, Karin
dc.contributor.editor	Aßmann, Uwe
dc.contributor.editor	Demuth, Birgit
dc.contributor.editor	Spitta, Thorsten
dc.contributor.editor	Püschel, Georg
dc.contributor.editor	Kaiser, Ronny
dc.date.accessioned	2017-06-30T20:56:03Z
dc.date.available	2017-06-30T20:56:03Z
dc.date.issued	2015
dc.identifier.isbn	978-3-88579-633-6
dc.identifier.issn	1617-5468
dc.language.iso	de
dc.publisher	Gesellschaft für Informatik e.V.
dc.relation.ispartof	Software-engineering and management 2015
dc.relation.ispartofseries	Lecture Notes in Informatics (LNI) - Proceedings, Volume P-239
dc.title	Testautomatisierung gute qualität fällt nicht vom himmel	de
dc.type	Text/Conference Paper
dc.pubPlace	Bonn
mci.reference.pages	378-385
mci.conference.location	Dresden
mci.conference.date	17.-20. März 2015