| dc.contributor.author | Kamsties, Erik | |
| dc.contributor.author | Pohl, Klaus | |
| dc.contributor.author | Reis, Sacha | |
| dc.contributor.author | Reuys, Andreas | |
| dc.contributor.editor | Rumpe, Bernhard | |
| dc.contributor.editor | Hesse, Wolfgang | |
| dc.date.accessioned | 2019-10-16T08:54:06Z | |
| dc.date.available | 2019-10-16T08:54:06Z | |
| dc.date.issued | 2004 | |
| dc.identifier.isbn | 3-88579-374-1 | |
| dc.identifier.issn | 1617-5468 | |
| dc.identifier.uri | http://dl.gi.de/handle/20.500.12116/29216 | |
| dc.description.abstract | Beim Testen von Software-Produktfamilien stellt der Testaufwand ein großes Problem in der Praxis dar. Durch Bewahrung der Variabilität in Testartefakten des Domain Engineerings kann mit Hilfe der ScenTED-Methode (Scenario based TEst Case Derivation) durch Wiederverwendung im Application Engineering der Testaufwand verringert werden. Die Variabilität ermöglicht die Ableitung von produktspezifischen Testfällen mit Hilfe von beschriebenen Varianten. Die ScenTED-Methode basiert auf der systematischen Verfeinerung von Use-Case-Szenarien zu Testfällen für den Systemund Integrationstest. Durch diese Verfeinerung der Szenarien wird die Nachvollziehbarkeit zwischen Entwicklungsartefakten und Testartefakten unterstützt, wodurch die Wiederverwendung von Testfällen vereinfacht und ein späteres Change-Management ermöglicht wird. In diesem Artikel liegt der Fokus auf der Erstellung und Wiederverwendung von Testartefakten für den Systemtest. | de |
| dc.language.iso | de | |
| dc.publisher | Gesellschaft für Informatik e.V. | |
| dc.relation.ispartof | Modellierung 2004 | |
| dc.relation.ispartofseries | Lecture Notes in Informatics (LNI) - Proceedings, Volume P-45 | |
| dc.title | Szenario-basiertes Systemtesten von Software-Produktfamilien mit ScenTED | de |
| dc.type | Text/Conference Paper | |
| dc.pubPlace | Bonn | |
| mci.reference.pages | 169-186 | |
| mci.conference.sessiontitle | Regular Research Papers | |
| mci.conference.location | Marburg | |
| mci.conference.date | 23.-26. März 2004 | |