Durchgängiger Einsatz Hardware-unabhängiger Testfälle im MiL-, SiL- und HiL-Test

Abstract

Der Vortrag gibt zunächst einen Überblick über die Testverfahren, die zurzeit in der Automobilindustrie eingesetzt werden. Hierbei wird kurz auf die Begriffe MiL (Model in the Loop), SiL (Software in the Loop) und HiL (Hardware in the Loop) eingegangen. Es werden die Probleme beschrieben, die dieser Ansatz mit sich bringt. Anschließend wird ein Lösungsansatz vorgestellt, der es ermöglicht, mit Hilfe der Signalabstraktion Tests aus früheren Testphasen wiederzuverwenden sowie Testfälle zu erstellen, die unabhängig von der verwendeten Hardware sind. Zuletzt wird noch auf die Einbindung dieses Lösungsansatzes in die Modellbasierte Entwicklung eingegangen.