GI LogoGI Logo
  • Anmelden
Digitale Bibliothek
    • Gesamter Bestand

      • Bereiche & Sammlungen
      • Titel
      • Autor
      • Erscheinungsdatum
      • Schlagwort
    • Diese Sammlung

      • Titel
      • Autor
      • Erscheinungsdatum
      • Schlagwort
Digital Bibliothek der Gesellschaft für Informatik e.V.
GI-DL
    • English
    • Deutsch
  • Deutsch 
    • English
    • Deutsch
Dokumentanzeige 
  •   Startseite
  • Lecture Notes in Informatics
  • Proceedings
  • INFORMATIK - Jahrestagung der Gesellschaft für Informatik e.V.
  • P133 - INFORMATIK 2008 - Beherrschbare Systeme - dank Informatik - Band 1
  • Dokumentanzeige
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
  •   Startseite
  • Lecture Notes in Informatics
  • Proceedings
  • INFORMATIK - Jahrestagung der Gesellschaft für Informatik e.V.
  • P133 - INFORMATIK 2008 - Beherrschbare Systeme - dank Informatik - Band 1
  • Dokumentanzeige

Positive and Negative Testing with Mutation-Driven Model Checking

Autor(en):
Chen, Zhenyu [DBLP] ;
Hollmann, Axel [DBLP]
Zusammenfassung
Mutation-driven test case generation with model checking has been pro- posed to reduce the costs of specification-based mutation analysis. Most of the exist- ing work focuses on verifying the expected behavior in the original model, i.e. positive testing. In this paper negative testing is introduced to check the unexpected behavior. Mutants are divided into three types: increscent, decrescent, and cross mutants. Both, positive and negative testing is proposed to guarantee the detection of these mutants. A non-trivial example illustrates and validates our approach.
  • Vollständige Referenz
  • BibTeX
Chen, Z. & Hollmann, A., (2008). Positive and Negative Testing with Mutation-Driven Model Checking. In: Hegering, H.-G., Lehmann, A., Ohlbach, H. J. & Scheideler, C. (Hrsg.), INFORMATIK 2008. Beherrschbare Systeme – dank Informatik. Band 1. Bonn: Gesellschaft für Informatik e. V.. (S. 187-192).
@inproceedings{mci/Chen2008,
author = {Chen, Zhenyu AND Hollmann, Axel},
title = {Positive and Negative Testing with Mutation-Driven Model Checking},
booktitle = {INFORMATIK 2008. Beherrschbare Systeme – dank Informatik. Band 1},
year = {2008},
editor = {Hegering, Heinz-Gerd AND Lehmann, Axel AND Ohlbach, Hans Jürgen AND Scheideler, Christian} ,
pages = { 187-192 },
publisher = {Gesellschaft für Informatik e. V.},
address = {Bonn}
}
DateienGroesseFormatAnzeige
187.pdf169.4Kb PDF Öffnen

Haben Sie fehlerhafte Angaben entdeckt? Sagen Sie uns Bescheid: Feedback abschicken

Mehr Information

ISBN: 978-3-88579-227-7
ISSN: 1617-5468
Datum: 2008
Sprache: en (en)
Typ: Text/Conference Paper
Sammlungen
  • P133 - INFORMATIK 2008 - Beherrschbare Systeme - dank Informatik - Band 1 [90]

Zur Langanzeige


Über uns | FAQ | Hilfe | Impressum | Datenschutz

Gesellschaft für Informatik e.V. (GI), Kontakt: Geschäftsstelle der GI
Diese Digital Library basiert auf DSpace.

 

 


Über uns | FAQ | Hilfe | Impressum | Datenschutz

Gesellschaft für Informatik e.V. (GI), Kontakt: Geschäftsstelle der GI
Diese Digital Library basiert auf DSpace.